晶振老化
來源：http://m.seastar-sys.com 作者：admin 2012年04月05
晶體諧振頻率和諧振電阻都隨時間的延續而變化，這就是所說的老化，人們最關注的是諧振頻率隨時間的變化。
對AT切晶體來說，在晶體使用初期，老化主要受元件內部應力釋放影響，頻率向升高方向變化，而后期受電極膜吸附的影響，，其頻率按對數關系向降低方向變化，隨時間增加變化量逐漸降低，見圖4。為減小出廠時的老化率，生產商大都對產品進行了預老化。
對老化指標，一般都規定產品的老化水平,而它并非明確的試驗條件,這種“水平”，是通過生產有計劃的抽檢而獲得的。可能某些個別晶體元件比規定水平會差，這是允許的。
目前電阻焊密封的石英晶體元件的老化率水平可以控制±5×10-6以下，對于普通精度產品（頻差大于±30×10-6）的應用來說，老化指標對元件工作影響并不是很重要，對于小公差（±0×10-6）以下）的晶體元器件來說老化是需要關注的指標。
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